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氏名
梶原 誠司 (カジハラ セイジ)
KAJIHARA Seiji
所属専攻講座
大学院情報工学研究院
情報創成工学研究系
職名
教授
研究分野・キーワード
(日)LSIの設計とテスト
(英)Design and test of LSIs
取得学位
  • 博士(工学) (Doctor of Engineering) 、 計算機システム・ネットワーク (Computer system network) 、 大阪大学 (Osaka University) 、 課程 、 1992年03月

学内職務経歴
  • 九州工業大学 大学院情報工学研究院 、 大学院情報工学研究院長 、 2016年04月 ~ 継続中

    ,

  • 九州工業大学 大学院情報工学研究院 情報創成工学研究系 、 教授 、 2013年04月 ~ 継続中

    Department of Creative Informatics, Faculty of Computer Science and Systems Engineering, Kyushu Institute of Technology, Professor, 2013.04 -

専門分野(科研費分類)
  • 計算機システム・ネットワーク (Computer system network)

論文(2006.4~)
  • 英語 、 On the effects of real time and contiguous measurement with a digital temperature and voltage sensor 、 ITC-Asia 2017 - International Test Conference in Asia (頁 125 ~ 130) 、 2017年11月 、 Miyake Y., Sato Y., Kajihara S.

    DOI:10.1109/ITC-ASIA.2017.8097126、 国際会議proceedings 、 共著

  • 英語 、 A Flexible Power Control Method for Right Power Testing of Scan-Based Logic BIST 、 Proceedings of the Asian Test Symposium (頁 203 ~ 208) 、 2016年12月 、 Kato T., Wang S., Sato Y., Kajihara S., Wen X.

    DOI:10.1109/ATS.2016.59、 国際会議proceedings 、 共著

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  • 英語 、 Timing-Accurate Estimation of IR-Drop Impact on Logic- and Clock-Paths during At-Speed Scan Test 、 Proceedings of the Asian Test Symposium (頁 19 ~ 24) 、 2016年12月 、 Holst S., Schneider E., Wen X., Kajihara S., Yamato Y., Wunderlich H., Kochte M.

    DOI:10.1109/ATS.2016.49、 国際会議proceedings 、 共著

  • 英語 、 Logic-path-and-clock-path-aware at-speed scan test generation 、 IEICE Transactions on Fundamentals of Electronics, Communications and Computer Sciences 、 E99A巻 12号 (頁 2310 ~ 2319) 、 2016年12月 、 Li F., Wen X., Miyase K., Holst S., Kajihara S.

    DOI:10.1587/transfun.E99.A.2310、 学術雑誌 、 共著

  • 英語 、 Temperature and voltage measurement for field test using an Aging-Tolerant monitor 、 IEEE Transactions on Very Large Scale Integration (VLSI) Systems 、 24巻 11号 (頁 3282 ~ 3295) 、 2016年11月 、 Miyake Y., Sato Y., Kajihara S., Miura Y.

    DOI:10.1109/TVLSI.2016.2540654、 学術雑誌 、 共著

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著書
  • 日本語 、 はかる×わかる半導体-入門編 、 日経BPコンサルティング 、 2013年05月 、 浅田邦博(監修),温暁青,梶原誠司,小松聡,佐藤康夫,志水勲,中村和之,畠山一実

    単行本(学術書) 、 序章 、 共著 、 電子デバイス・電子機器 、 計算機システム・ネットワーク

  • 日本語 、 はかる×わかる半導体 半導体テスト技術者検定3級問題集 、 日経BPコンサルティング 、 2014年12月 、 浅田邦博(監修),小松聡,温暁青,梶原誠司,佐藤康夫,中村和之,井上美智子,小林春夫,畠山一実,志水勲,岩崎一彦,井上智生,高橋寛

    単行本(学術書) 、 共著 、 電子デバイス・電子機器 、 計算機システム・ネットワーク

総説・解説記事
  • 日本語 、 オンチップ回路による高精度遅延計測 、 日本信頼性学会 、 信頼性学会誌 、 35巻 8号 (頁 451) 、 2013年12月 、 三浦幸也, 佐藤康夫, 梶原誠司

    Highly Accurate Delay Time Measurement by an On-Chip Circuit , Reliability Engineering Association of Japan , Journal of Reliability Engineering Association of Japan , vol.35 (8) (p.451) , 2013.12 , Yukiya Miura,Yasuo Sato,Seiji Kajihara

    学会誌 、 共著 、 計算機システム・ネットワーク 、 電子デバイス・電子機器

  • 日本語 、 フィールドテストデータの蓄積とその活用 、 日本信頼性学会 、 信頼性学会誌 、 35巻 8号 (頁 518) 、 2013年12月 、 梶原誠司, 大竹哲史

    Logging and Using Field Test Data for Improved Dependability , Reliability Engineering Association of Japan , Journal of Reliability Engineering Association of Japan , vol.35 (8) (p.518) , 2013.12 , Seiji Kajihara, Satoshi Ohtake

    学会誌 、 共著 、 計算機システム・ネットワーク 、 電子デバイス・電子機器

  • 日本語 、 物理劣化による脅威とフィールドテストの役割 、 日本信頼性学会 、 信頼性学会誌 、 35巻 8号 (頁 461) 、 2013年12月 、 佐藤康夫, 梶原誠司

    Field Test Role for Danger of Physical Degradation , Reliability Engineering Association of Japan , Journal of Reliability Engineering Association of Japan , vol.35 (8) (p.461) , 2013.12 , Yasuo Sato,Seiji Kajihara

    学会誌 、 共著 、 計算機システム・ネットワーク 、 電子デバイス・電子機器

学術関係受賞
  • 電子情報通信学会フェロー (IEICE Fellow) 、 2015年09月09日 、 日本国 、 国内学会・会議・シンポジウム等の賞 、 電子情報通信学会 、 梶原誠司 (Seiji Kajihara) 、 計算機システム・ネットワーク

  • 電子情報通信学会情報・システムソサイエティ 論文賞 、 2011年06月02日 、 日本国 、 国内学会・会議・シンポジウム等の賞 、 電子情報通信学会 、 佐藤 康夫,浜田 周治,前田 敏行,高取 厚夫,野津山 泰幸,梶原 誠司 、 計算機システム・ネットワーク

  • 電子情報通信学会情報・システムソサイエティ 論文賞 、 2008年11月 、 日本国 、 国内学会・会議・シンポジウム等の賞 、 電子情報通信学会 、 Xiaoqing WEN, Seiji KAJIHARA, Laung-Terng WANG, Kewal K. SALUJA, Kozo KINOSHITA, Yoshiyuki YAMASHITA, Kohei MIYASE, Tatsuya SUZUKI 、 計算機システム・ネットワーク

工業所有権
  • 特許 、 半導体装置、検知方法及びプログラム 、 佐藤康夫,梶原誠司,井上美智子,米田友和,李賢彬,三浦幸也 (Yasuo Sato, Seiji Kajihara,Michiko Inoue,Tomokazu Yoneda, Hyunbean Yi,Yukiya Miura )

    出願番号( 2012-505659 、 2011年03月14日 ) 登録番号( 5737524 、 2015年05月01日 ) 、 国立大学法人九州工業大学、国立大学法人奈良先端科学技術大学院大学、公立大学法人首都大学東京 、 日本国 、 あり 、 計算機システム・ネットワーク

  • 特許 、 半導体装置、検知方法及びプログラム 、 佐藤康夫,梶原誠司,井上美智子,米田友和,李賢彬,三浦幸也 (Yasuo Sato, Seiji Kajihara,Michiko Inoue,Tomokazu Yoneda, Hyunbean Yi,Yukiya Miura )

    出願番号( 201180014113.1 、 2011年03月14日 ) 登録番号( ZL201180014113.1 、 2014年12月10日 ) 、 国立大学法人九州工業大学、国立大学法人奈良先端科学技術大学院大学、公立大学法人首都大学東京 、 中華人民共和国 、 あり 、 計算機システム・ネットワーク

  • 特許 、 故障検出システム、生産回路及びプログラム 、 佐藤 康夫,王森レイ,宮瀬紘平,梶原誠司 (Yasuo Sato,Senling Wang, Kohei Miyase, Seiji Kajihara)

    出願番号( 10-2014-7034398 、 2014年12月08日 ) 、 JST 、 大韓民国 、 あり 、 計算機システム・ネットワーク

  • 特許 、 故障検出システム、生産回路及びプログラム 、 佐藤 康夫,王森レイ,宮瀬紘平,梶原誠司 (Yasuo Sato,Senling Wang, Kohei Miyase, Seiji Kajihara)

    出願番号( 14/402,732 、 2014年11月21日 ) 、 JST 、 アメリカ合衆国 、 あり 、 計算機システム・ネットワーク

  • 特許 、 故障検出システム、生産回路及びプログラム 、 佐藤 康夫,王森レイ,宮瀬紘平,梶原誠司 (Yasuo Sato,Senling Wang, Kohei Miyase, Seiji Kajihara)

    出願番号( '特願2012-117842 、 2012年05月23日 ) 、 国立大学法人 九州工業大学 、 日本国 、 あり 、 計算機システム・ネットワーク

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研究発表(2006.4~)
  • 電子情報通信学会DC研究会 、 その他の会議 (査読無し) 、 2015年12月 、 村上市(新潟) 、 デジタルモニタを用いたチップ内温度電圧変動の測定について 、 口頭(一般) 、 計算機システム・ネットワーク

  • 電子情報通信学会DC研究会 、 その他の会議 (査読無し) 、 2015年12月 、 長崎市 、 FPGAのオンチップ遅延測定における温度影響補正の検討 、 口頭(一般) 、 計算機システム・ネットワーク

  • 情報処理学会DAシンポジウム 、 その他の会議 (査読無し) 、 2015年08月 、 加賀市 、 リングオシレータを用いたFPGA上の完全デジタル温度モニタ 、 口頭(一般) 、 計算機システム・ネットワーク

  • 電子情報通信学会DC研究会 、 その他の会議 (査読無し) 、 2014年12月 、 高岡市 、 FPGAのリングオシレータを利用した温度モニタ 、 口頭(一般) 、 計算機システム・ネットワーク

  • 電子情報通信学会DC研究会 、 その他の会議 (査読無し) 、 2014年12月 、 高岡市 、 FPGAのリングオシレータにおけるNBTI劣化量の低減と制御に関する検討 、 口頭(一般) 、 計算機システム・ネットワーク

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共同研究希望テーマ
  • 高信頼VLSIの設計とテスト 、 産学連携、民間を含む他機関等との共同研究等を希望する 、 共同研究

講演
  • 電子情報通信学会デザインガイア2015,

    招待講演 、 VLSIテスト技術によるシステムディペンダビリティ向上への期待 、 長崎市 、 2015年12月

  • 16th IEEE Workshop on RTL and High Level Testing,

    招待講演 、 Failure Prediction of Logic Circuits for High Field Reliability 、 Mumbai, India 、 2015年11月

  • International Workshop on Reliability Aware System Design and Test,

    招待講演 、 VLSI design and testing for enhanced systems dependability 、 India 、 2013年01月

  • 電子情報通信学会デザインガイア2012,

    招待講演 、 組込み自己テストによるフィールド高信頼化について 、 福岡市 、 2012年11月

  • International Workshop on Reliability Aware System Design and Test,

    招待講演 、 Failure Prediction of Logic Circuits for High Field Reliability 、 India 、 2012年01月

担当授業科目
  • 2017年度 、 論理設計 、 2017年04月 ~ 2017年06月 、 専任

  • 2017年度 、 計算機システム特論 I 、 2017年04月 ~ 2017年06月 、 専任

  • 2016年度 、 論理設計 、 2016年04月 ~ 2016年06月 、 専任

  • 2016年度 、 計算機システム特論 I 、 2016年04月 ~ 2016年06月 、 専任

  • 2015年度 、 計算機システム特論 I 、 2015年04月 ~ 2015年09月 、 専任

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その他教育活動及び特記事項
  • 情報工学府グローバルインフォマティクスリーダーズ(GIL)コースの立ち上げと実施 、 2012年04月 ~ 2016年03月

学内委員会等
  • 情報工学部改組WG委員長 、 2014年06月 ~ 継続中

  • 研究戦略室員 、 2012年04月 ~ 2016年03月

  • 副情報工学研究院長 、 2012年04月 ~ 2016年03月

学会・委員会等活動
  • 米国電気電子学会(IEEE) 、 European Test Symposium,Regional Liaisons 、 2014年06月 ~ 2015年05月

  • パワーデバイス・イネーブリング協会検定委員会 、 検定問題審議委員 、 2013年10月 ~ 2014年03月

  • VLSI Design and CAD Algorithm小特集号(英文論文誌A) 、 編集委員 、 2013年01月 ~ 2014年01月

  • パワーデバイス・イネーブリング協会検定委員会 、 検定用教科書編集委員 、 2012年08月 ~ 2013年01月

  • 電子情報通信学会 、 ディペンダブルコンピューティング研究会 委員長 、 2012年05月 ~ 2014年05月

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科研費(文科省・学振)獲得実績
  • 挑戦的萌芽研究 、 2015年04月 ~ 2018年03月 、 集積回路の製造テスト結果を利用した信頼性予測

    研究課題番号:15K12004

  • 基盤研究(B) 、 2009年04月 ~ 2013年03月 、 VLSIの高品質フィールドテストに関する研究

    研究課題番号:21300015

  • 基盤研究(C) 、 2007年04月 ~ 2010年03月 、 次世代LSIのための信号劣化回避型テスト方式に関する研究

    研究課題番号:19500047

  • 基盤研究(C) 、 2004年04月 ~ 2007年03月 、 マルチフォールトモデルを対象としたLSIのテストに関する研究

    研究課題番号:16500036

  • 若手研究(B) 、 2002年04月 ~ 2004年03月 、 システムLSIに対するテスト効率化手法に関する研究

    研究課題番号:14780228

2018/05/09 更新