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氏名
渡邉 晃彦 (ワタナベ アキヒコ)
WATANABE Akihiko
所属専攻講座
大学院工学研究院
電気電子工学研究系
職名
助教
研究分野・キーワード
(日)パワーデバイス、パワーエレクトロニクス、半導体表面物性
(英)Power Semiconductor Devices, Power Electronics, Surface Science
出身大学
  • 九州工業大学  工学部  電気工学科

    大学 、 1994年03月 、 卒業 、 日本国

出身大学院
  • 九州工業大学  工学研究科  電気工学

    博士課程 、 1999年03月 、 単位取得満期退学 、 日本国

取得学位
  • 博士(工学) (Doctor of Engineering) 、 未入力 (Other) 、 九州工業大学 (Kyushu Institute of Technology) 、 課程 、 1999年06月

学内職務経歴
  • 九州工業大学 大学院工学研究院 電気電子工学研究系 、 助教 、 2008年04月 ~ 継続中

    Department of Electrical Engineering and Electronics, Faculty of Engineering, Kyushu Institute of Technology, Assistant Professor, 2008.04 -

学外略歴
  • 財団法人ファインセラミックスセンター 、 研究員 、 1999年04月 ~ 2003年03月

  • 松下電器産業株式会社 、 研究員 、 1999年04月 ~ 2003年03月

所属学会・委員会
  • 日本物理学会 、 1995年01月 ~ 継続中 、 日本国

  • 応用物理学会 、 1995年01月 ~ 継続中 、 日本国

  • 産業応用工学会 、 2017年05月 ~ 継続中 、 日本国

  • ニューダイヤモンドフォーラム 、 2018年08月 ~ 継続中 、 日本国

    Japan New Diamond Forum , 2018.08 - , JAPAN

論文(2006.4~)
  • 英語 、 A power cycling degradation inspector of power semiconductor devices 、 Microelectronics Reliability 、 88-90巻 (頁 458 ~ 461) 、 2018年09月 、 Watanabe A., Omura I.

    DOI:10.1016/j.microrel.2018.06.071、 学術雑誌 、 共著

  • 英語 、 Real-time imaging of temperature distribution inside a power device under a power cycling test 、 Microelectronics Reliability 、 76-77巻 (頁 490 ~ 494) 、 2017年09月 、 Watanabe A., Nagao R., Omura I.

    DOI:10.1016/j.microrel.2017.06.092、 学術雑誌 、 共著

  • 英語 、 Failure analysis of power devices based on real-time monitoring 、 Microelectronics Reliability 、 55巻 9-10号 (頁 2032 ~ 2035) 、 2015年08月 、 A. Watanabe, M. Tsukuda, I. Omura

    DOI:10.1016/j.microrel.2015.06.128、 国際会議proceedings 、 共著

  • 英語 、 Real-time failure monitoring system for high power IGBT under acceleration test up to 500 A stress 、 Proceedings of The 26th International Symposium on power semiconductor devices and ICS (ISPSD2014) (頁 338 ~ 341) 、 2014年06月 、 A. Watanabe, M. Tsukuda, I. Omura

    DOI:10.1109/ISPSD.2014.6856045、 国際会議proceedings 、 共著

  • 英語 、 Internal degradation monitoring of power devices during power cycling test 、 Proceedings of 8th International Conference on Integrated Power Electronics Systems (CIPS2014) (頁 1 ~ 6) 、 2014年02月 、 A. Watanabe, M. Tsukuda, I. Omura

    国際会議proceedings 、 共著

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研究発表(2006.4~)
  • 6th International Symposium on Applied Engineereing and Sciences (SAES2018) (6th International Symposium on Applied Engineereing and Sciences (SAES2018)) 、 その他の会議 (査読有り) 、 2018年12月 、 Real-Time Monitoring for Improvement of Reliability of Power Devices (Real-Time Monitoring for Improvement of Reliability of Power Devices) 、 口頭(一般)

  • 6th International Symposium on Applied Engineereing and Sciences (SAES2018) (6th International Symposium on Applied Engineereing and Sciences (SAES2018)) 、 その他の会議 (査読有り) 、 2018年12月 、 DC Hot carrier effect of a thin-film SOI Power p-MOSFET at high temperature (DC Hot carrier effect of a thin-film SOI Power p-MOSFET at high temperature) 、 口頭(一般)

  • 電気学会、電子デバイス・半導体電力変換合同研究会「パワーデバイス・パワーエレクトロニクスとその実装技術」 、 その他の会議 (査読無し) 、 2018年11月 、 内部劣化および熱・電気特性の同時観測による複合型故障解析装置の実証 (Combined failure analysis system by simultaneous observation of mechanical, thermal and electrical characteristics) 、 口頭(一般)

  • 29th European Symposium on Reliability of Electron Devices, Failure Physics and Analysis (29th European Symposium on Reliability of Electron Devices, Failure Physics and Analysis ) 、 その他の会議 (査読有り) 、 2018年10月 、 A power cycling degradation inspector of power semiconductor devices (A power cycling degradation inspector of power semiconductor devices) 、 口頭(一般)

  • International Symposium on Applied Engineereing and Sciences (SAES2017) 、 その他の会議 (査読有り) 、 2017年11月 、 Device destruction during AC stree of a thin-film SOI power nMOSFET 、 ポスター(一般)

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講演
  • 第164回産学交流サロン「ひびきサロン」、先端パワーエレクトロニクス研究のオープンイノベーション型産学連携,

    その他 、 パワー半導体の高信頼化を促進するリアルタイム・モニタリング 、 北九州学研都市、産学連携センター 、 2018年03月

  • 第8回次世代ユビキタス・パワーエレクトロニクスのための信頼性科学ワークショップ,

    招待講演 、 リアルタイムモニタリングによる故障メカニズム特定と故障予測の可能性 、 2018年02月

  • JST新技術説明会,

    その他 、 パワーデバイスの故障予測を可能にするモニタリング技術 、 JST東京本部別館1Fホール 、 2017年12月

  • 九州工業大学次世代パワーエレクトロニクス研究センター 第1回 研究会,

    その他 、 ダイヤモンドの電子デバイス応用 、 2017年10月

  • NPERC-J 第2回ワークショップ:「新しいグリーンエレクトロニクスの創生を目指して」NPERC-J が描く2025 年のパワーエレクトロニクス,

    その他 、 リアルタイム・シミュレーション:赤外線カメラと同期したデバイス内部温度解析 、 2015年11月

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担当授業科目
  • 2018年度 、 電気回路演習 、 2018年12月 ~ 2019年03月 、 専任

  • 2017年度 、 電気回路演習 、 2017年12月 ~ 2018年03月 、 専任

  • 2017年度 、 電気電子工学実験Ⅰ 、 2017年04月 ~ 2017年09月 、 専任

  • 2017年度 、 電気電子工学実験ⅢB 、 2017年04月 ~ 2017年09月 、 専任

  • 2016年度 、 電気回路演習 、 2016年12月 ~ 2017年03月 、 専任

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学会・委員会等活動
  • 産業応用工学会 、 全国大会2018 (現地担当委員長) 、 2017年05月 ~ 継続中

  • 産業応用工学会 、 全国大会2017 (出版委員長) 、 2017年05月 ~ 2017年09月

科研費(文科省・学振)獲得実績
  • 基盤研究(C) 、 2015年04月 ~ 2018年03月 、 超音波による接合温度分布計測:パワー半導体高信頼化の革新的評価技術

    研究課題番号:15K05944

2019/05/07 更新